LAMP半自動晶片偏心檢測機 LAMP Semi-Auto Chip Visual Inspect Machine

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型號 : HJ-LPMA-20

機台介紹 Product Description

本機台可針對封膠完後之材料進行晶片偏心的量測,Defuse的材料亦可適用。

This machine is used to conduct chip visual inspection after sealing, and is suitable for Defuse materials.

機台規格 Technical Data

機台名稱 Name:LAMP Semi-Auto Chip Visual Inspect Machine

解析能力 Resolution:±0.02mm

重複精度 Repetition accuracy:±5um

控制系統 Operating system:工業級電腦;WinXP   Industrial version WinXP

資料儲存方式 Data storage:Excel;報表功能 Excel spreadsheet functionality

測試材料 Test material:LAMP20&30連體 Connected LAMP20 & 30

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